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초등학생용 학습기술검사(LSI-C)

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Learning Skills Inventory-Children(LSI-C) 초등용 학습기술검사   개발 : 변창진(경북대) 교수, 2008
대상 : 초등학교 4~6학년
시간 : 30분 내외
문항 : 95문항
실시 : 개별/집단
구성 : 실시요강, 검사지 30부

학습기술개선프로그램(무료 다운)

http://mindpress.co.kr/shop/board/view.php?id=down&search[subject]=on&search[word]=%C7%D0%BD%C0%B1%E2%BC%FA&no=57

기타 : 채점 소요시간 단축, 9개 합계 점수만 입력하면 됩니다.

  검사의 특징   -학습기술의 가장 핵심적인 9개 하위척도 측정
-하위척도별 정교하고 변별력 높은 문항 사용
-세련된 측정, 평가, 통계 적용
-높은 신뢰도와 타당도
-세밀하고 쉬운 해석 제공   하위척도   -기본기술척도:시간관리, 환경관리, 행동관리기술
-인지기술척도:읽기, 노트필기, 정보처리(기억), 시험치기기술
-동기촉진기술, 긴장이완기술척도   검사결과의 활용   -학습방법 및 태도, 기술의 문제점 측정, 진단
-학습치료를 위한 기초자료
-학업문제의 상담과 치료
-수업내용과 방법의 개선
-학습기술훈련 프로그램의 효과 검증    

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